Ce dispositif de test de caractérisation optique des batteries à semi-conducteurs TOB-YCGTGX-10 convient à l'analyse transversale par microscopie optique, spectroscopie Raman et spectroscopie infrarouge (IR).
Le système de test optique ventilé de batteries à semi-conducteurs TOB-YCTQGTGX-10 convient aux tests transversaux via la microscopie optique ventilée, la spectroscopie Raman et la spectroscopie infrarouge (IR).
Analyseur XRD de batterie à semi-conducteurs TOB-YCGTXRD-16 : détection de structure cristalline de pointe avec analyse rapide et non destructive pour une innovation accélérée en matière de batterie.
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